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電鍍層膜厚分析儀THICK800A
產(chǎn)品簡介

電鍍層膜厚分析儀THICK800A采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。

產(chǎn)品型號:
更新時間:2024-07-07
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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電鍍層膜厚分析儀THICK800A根據(jù)測量原理般有以下五種類型:
1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料般為:鋼\鐵\銀\鎳.此種方法測量精度高
2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度低
3.超聲波測厚法:目前內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但般價格昂貴\測量精度也不高.
4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩
5.放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(般在10萬RMB以上),適用于些特殊場合.
鍍層測厚儀覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。鍍層測厚儀這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
鍍層測厚儀隨著技術的日益,特別是近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
電鍍層膜厚分析儀THICK800A采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。

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