天瑞公司有完善的質量管理體系，從進口核心零部件的檢測開始，到儀器的組裝，數據的標定及考核，均嚴格把關，能夠很好的控制產品的質量。公司嚴格按ISO9001質量體系的要求，進行產品質量的管理，每道工序進行嚴格的檢驗，絕不允許不合格的流到下到工序；不合格的產品不出廠，堅決做到“三不"和“三不放過"，確保產品質量，用戶使用放心。Thick800A是天瑞儀器銷量好的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結構，測試，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務及時。
鍍層厚度測試方法般有以下幾種方法：
1.光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005
2.X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005
3.庫侖法，此法般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005
X光電鍍層測厚儀應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于電鍍行業。
X光電鍍層測厚儀硬件配置
1. 探測器
2. 高、低壓電源
3. MCA多道分析器
4. X光管
5. 高精密攝像頭
6. 開放式樣品腔
7. 雙激光定位裝置
8. 鉛玻璃屏蔽罩
9. 精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動
10. 信號檢測電子電路
11. 高度傳感器
12. 保護傳感器
13. 計算機及噴墨打印機
儀器軟件優勢:
儀器采用天瑞軟件研發團隊研發的能量色散X熒光FpThick軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、鍵智能化操作。譜圖區域采用動態模式，測試時元素觀察更直觀。
軟件具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
技術參數
1.x射線電鍍層測厚儀針對不規則樣品進行高度激光定位測試點分析；
2.軟件可分析高5層25種元素鍍層；
3.通過軟件操作樣品移動平臺，實現不同測試點的測試需求；
4.配置高分辨率Si-PIN半導體探測器，實現對多鍍層樣品的分析；
5.內置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態；
6.高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
7.外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
8.樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
9.樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm
10.移動范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
11.Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm
產品特點
1.小準直器：0.1，可以進行小樣品測試（小點）的測試，從而提高測試的率和度。
2.高度激光：自動定位高度，可滿足不規則表面樣品的測試
3.高分辨率探頭：提高分析的性。
測試實例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖。
結論
實驗表明，使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試，結果度高，速度快（幾十秒），其測試效果完可以和顯微鏡測試法媲美。
歡迎進入深圳市天瑞儀器股份有限公司網站！
產品簡介
當前位置：
產品分類
相關文章
上一個：
返回列表
