平面樣品鍍層厚度檢測(cè)儀采用下照式結(jié)構(gòu)，儀器操作簡(jiǎn)單，測(cè)試，售后服務(wù)及時(shí)。
平面樣品鍍層厚度檢測(cè)儀性能特點(diǎn)
EDX1800B采用下照式：適合平面樣品的鍍層測(cè)試需求；準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿(mǎn)足不同樣品材質(zhì)和形狀的檢測(cè)；移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)；高分辨率探測(cè)器：提高分析的性；新代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定，高達(dá)100W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。
應(yīng)用領(lǐng)域
鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
鋅基----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
技術(shù)參數(shù)
1 分析元素范圍：S-U
2 同時(shí)可分析多達(dá)3層以上鍍層
3 分析厚度檢出限高達(dá)0.01μm
4 多次測(cè)量重復(fù)性高可達(dá)0.05μm
5 定位精度：0.5mm
5 測(cè)量時(shí)間：30s-300s
6 計(jì)數(shù)率：1300-8000cps
7 儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例，分析的范圍是0.01—30um，在這個(gè)范圍內(nèi)，才能檢測(cè)。0.5-10um的，偏差是5%，就是說(shuō)真值是1um，用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。
儀器硬件配置
1. X 光管
2. 高、低壓電源
3. MCA多道分析器:
4. 高精密攝像頭
5. 移動(dòng)平臺(tái)（自動(dòng)）
6. 超大樣品腔
7. 準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
8. 濾光片自動(dòng)切換
9. 準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合
10. 標(biāo)準(zhǔn)樣品
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