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鍍層厚度測試儀
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功能性多導毛細聚焦鍍層測厚儀可以實現在ji微小樣品測試中獲得geng高的激發qiang度,同等光斑面積下,熒光qiang度是傳統X鍍層儀器千倍以上;geng高計數率bao zheng了儀器的準確性和wen ding 性。
X射線電鍍厚度檢測儀高精度移動平臺可jingzhun定位測試點,重復定位精度小于0.005mm。
深圳天瑞儀器鍍層測厚儀自動化的X、Y、Z軸的三維聯動,更精準kuaisu地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點的dingwei。
半導體功能性鍍層測厚儀是天瑞儀器集30多年X熒光膜厚測量技術,研發的一款X射線熒光鍍層測厚及成分分析儀。
TEL:15994807208
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